התנגדות לבקשת פטנט שהוגשה על ידי חברת קמטק בע"מ כנגד חברת אורבוטק בע"מ. ההליך נדון ברשות הפטנטים בפני יערה שושני כספי, פוסקת בקניין רוחני. ביום 16.4.2015 ניתנה ההחלטה בתיק.
העובדות: שם האמצאה מושא בקשה הפטנט הינו "התקן ושיטות לבדיקת חפצים", האמצאה הנתבעת מיושמת בין היתר בתחום הבדיקה האופטית הממוכנת (AOI – automated optical inspection). האמצאה היא שיטה לעיבוד תמונה המתבצעת לאחר רכישת תמונה אופטית של החפץ הנבדק. הכוללת:
א. הפקת ייצוג גבולות אלמנטים ידועים מראש הקיימים בתמונה (להלן: "רכיב א");
ב. איתור "מועמדים לפגמים" בתמונה בחומרה ויצירת פלט תואם (להלן: "רכיב ב");
ג. קבלת פלט ובו "מועמדי חומרה לסיווג כפגמים" וייצוג גבולות האלמנטים הידועים (להלן: "רכיב ג'");
ד. יצירת חלון עניין סביב חלק מן המידע הכלול בפלט דלעיל (להלן: "רכיב ד" – הוסף במסגרת התיקון);
ה. זיהוי של לפחות התראת שווא אחת בחלון העניין באמצעות תוכנה (להלן: "רכיב ה");
ו. שימוש בתוכנה לצורך איתור "מועמדים לפגמים" נוספים בתמונה (להלן: "רכיב ו" – הוסף במסגרת התיקון).
המתנגדת טוענת כי האמצאה אינה כשירת פטנט מאחר שאין בה מוצר או תהליך כנדרש בסעיף 3 לחוק הפטנטים. לגישתה, לכל היותר המדובר בניסיון המבקשת לקבל בלעדיות בגין תהליך מחשבתי או אלגוריתמיקה לשמה.
עוד טוענת המתנגדת כי הבקשה אינה חדשה כנדרש בסעיף 4 לחוק.
תוצאות ההליך: ההתנגדות מתקבלת בשל היעדר חידוש. נפסק כי המבקשת תישא בהוצאות המתנגדת ושכר טרחת באי כוחה בגין ניהול הליך זה ותשלם למתנגדת סך 15,000₪ כולל מע"מ.
נקודות מרכזיות שנדונו בהליך:
אמצאה כשירת פטנט
סעיף 3 לחוק קובע מהי אמצאה כשירת פטנט:
"אמצאה, בין שהיא מוצר ובין שהיא תהליך בכל תחום טכנולוגי, שהיא חדשה, מועילה, ניתנת לשימוש תעשייתי ויש בה התקדמות המצאתית – היא אמצאה כשירת פטנט."
האמצאה הנתבעת עוסקת בתחום הבדיקה האופטית הממוכנת ומכוונת למציאת פגמים בחפצים כגון מעגלים מודפסים. כלל ידוע הוא כי כדי לבחון האם האמצאה עומדת בהוראות סעיף 3 לחוק, קרי, האם האמצאה הינה בגדר תחום טכנולוגי, יש לבחון את האמצאה הנתבעת בכללותה מבלי להפריד את רכיביה זה מזה.
בענייננו, נפסק כי מתבצע תהליך עיבוד תמונה שלא יכול להיעשות אלא על ידי מכונה ממשית ותוצאותיו הינן מוחשיות. אי לכך, על אף שלא נתבעים באמצאה רכיבים פיזיים וחרף הסכמת העד מטעם המבקשת כי חלק מן האמצאה הנתבעת הינו אלגוריתמי חישובי אשר בא לייעל את הליך עיבוד התמונה, נפסק כי האמצאה בכללותה הינה בתחום טכנולוגי, משכך נדחו טענות המתנגדת לעניין סעיף 3 לחוק.
דרישת החידוש
סעיף 4 לחוק מפרט את דרישת החידוש בכך שלא נעשה פרסום פומבי של האמצאה הנתבעת הן בישראל והן מחוצה לה קודם לתאריך הקובע. סעיף 4 לחוק קובע כדלקמן:
"אמצאה נחשבת לחדשה, אם לא נתפרסמה בפומבי, בין בישראל ובין מחוצה לה, לפני תאריך הבקשה –
(1) על ידי תיאור, בכתב או במראה או בקול או בדרך אחרת, באופן שבעל מקצוע יכול לבצע אותה לפי פרטי התיאור;
כידוע, על מנת לשלול חידוש של אמצאה הכרחי כי זו תתואר במלואה בפרסום אחד ויחיד (ראו: ע"א 345/87 Huges Aircraft Company נ' מדינת ישראל פ"ד מד(4) 45 בעמ' 102-103).
על מנת לקבוע כי האמצאה הנתבעת משוללת חידוש, די יהא בפרסום אחד אשר יצביע על יצירת חלון עניין המכיל מועמדים לפגם (בין שהוגדרו במפורש מראש על ידי המפעיל ובין אם נמצאו בחומרה לאור הגדרות המערכת), ולאחר מכן סריקה נוספת של המידע שהתקבל באמצעות תוכנה לשם מציאת התראת שווא אחת ואיתור מועמדים נוספים לפגם.
נפסק כי מניתוח הפרסומים: פרסום 1982 West, פרסום 1984 West ו פטנט ארה"ב 429 עולה כי פרסומים אלו שוללים חידוש מן האמצאה הנתבעת בתביעה 1.
כך למשל פטנט ארה"ב 429 תובע מערכת לבדיקת פגמים בתמונה על ידי השוואתה לתמונת מקור, אף בפטנט זה מתבצעות בדיקות הן בחומרה והן בתוכנה. בפטנט נתבעה מערכת דו שלבית לבדיקת פגמים בתמונה. הפטנט עוסק אף הוא בזיהוי גבולות (טור 22 שורה 12 ואילך), זיהוי ראשוני של פגמים בחומרה (טור 26 שורה 66 ואילך), ולאחר מכן וידוא של הפגמים על ידי תוכנה (ראה טור 14 שורה 47 ואילך וטור 26 שורה 25 ואילך). מעצם בחינה מחדש של המועמד לפגם ניתן להניח את יצירתו של חלון עניין שבו נעשית הבדיקה המחודשת. לעניין זה ראה טור 6 שורות 49-60; טור 9 שורות 29-39 המתארות תהליך ראשון ולאחריו תהליך בדיקה שני לצורך אימות. כלומר פטנט ארה"ב 429 מכיל את כל רכיבי הבקשה שלפנינו, הגדרת מועמדים לפגם (היינו יצירת אזורי עניין, לאור דברי ד"ר ריפא עצמו), זיהוי פגמים על ידי חומרה ולאחר מכן וידוא ואימות באמצעות תוכנה ביחס לפגמים שנמצאו. די באלו לדעתי כדי לגלות את האמצאה הנתבעת בבקשה שבפני.
על כן נפסק כי תביעה 1 נעדרת חידוש כנדרש בסעיף 4 לחוק. לאור מסקנה זו, מתייתר הצורך ויש לקבוע כי אף הינה נעדרת התקדמות המצאתית (ראו: ע"א 433/82 בחרי נ' פדלון פ"ד ל"ט(3) 1985, 533).
למידע נוסף או לשאלות ביחס למאמר צרו אתנו קשר:
דרורי-וירז'נסקי-אורלנד, עורכי דין ועורכי פטנטים:
טל:03-6005572
פקס:03-6005531
דוא"ל:office@dwo.co.il
למידע נוסף על רישום פטנטים במשרדנו ראו>> מידע נוסף בעמוד זה על רישום פטנטים.
למידע נוסף על תביעות פטנטים במשרדנו ראו>> מידע נוסף בעמוד זה ייצוג בתביעות פטנטים.
